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张希仁副教授

发布时间: 2016-10-12 09:37:43   作者:本站编辑   来源: 本站原创   点击:743

性别:男           职称:副教授           邮箱:xiren3208@163.com

 

个人简介:1997年9月-2001年7月就读于武汉理工大学,获工学学士学位;2001年9月-2004年6月就读于西安交通大学电子与信息工程学院,获工学硕士学位;2004年8月-2008年1月就读于中国科学院光电技术研究所(成都),获工学博士学位。2008年3月至今,在电子科技大学光电信息学院从事教学和科研工作。2012年晋升为副教授。2014年1月至2015年1月,在美国圣路易斯华盛顿大学(Washington University in Saint Louis)做访问学者,合作导师为汪立宏教授(Lihong V. Wang,生物光声成像先驱)。

 

科研工作:长期致力于光学技术检测技术、利用时间反演调控光在散射介质的传输与吸收、用于机器视觉的光学系统等领域的基础理论和应用研究工作。已主持或参与包括国家自然科学基金、四川省青年基金、中科院光电所领域前沿部署课题、中央高校基本科研业务费、电子科技大学信息医学研究中心开放课题、科技部“863”计划项目以及其它横向等项目。2007年荣获中国科学院院长奖学金,是中科院成都分院优秀青年创新团队主要成员之一。先后在Appl. Phys. Lett., J. Appl. Phys., Eur. Phys. J. Special Topic,Int. J. Thermophys,Chinese Physics B及《物理学报》等国内外学术期刊上发表论文近20篇,其中SCI收录11篇。

 

教学工作先后承担本科生《量子力学》《声光技术》《量子力学与统计物理》及成人教育《自动控制》等课程的教学工作。

 

人才培养:已指导本科毕业设计20余人,各类创新(基金)创业计划、大学生科研训练计划(URTP)等10余项。已招收和培养硕士研究生10余人。

招收硕士生专业:信号与信息处理(学硕),电子与通信工程(专硕),光学工程(专硕)等。

研究方向:

1. 光学生物医学成像与探测;

2. 调控光在散射介质的传输与吸收;

3. 光电成像设备的开发与研制;

4. 机器视觉工业应用等。

 

主要论著

发表学术论文近20篇,被SCI收录11篇。部分代表性论文如下:

[1] Xiren Zhang and Chunming Gao, Influence of Reflectance on Determination of Free, Carrier Absorption of Silicon Wafer, Int. J. Thermophys, 2015, Vol 36(5): 973-979.

[2] 张希仁, 高椿明, 方波调制下自由载流子吸收测量半导体载流子输运参数的时域模型, 物理学报, Vol. 63, No. 13 (2014) 137801.

[3] Xiren Zhang and Bincheng Li , Carrier Diffusivity Measurement in Silicon Wafers Using Free Carrier Absorption, Int. J. Thermophys, Vol, 34, Issue 8-9 (2013):1721-1726.

[4] Zhang Xiren, Gao Chunming, Zhou Ying and Wang Zhanping, Measurement accuracy analysis of free carrier absorption determination of electronic transport properties of silicon wafers, Chinese Physics B, 2011, 2011 20(6):068105-1-068105-7. 

[5] Xiren Zhang, Bincheng Li, and Chunming Gao, Analysis of free carrier absorption measurement of electronic transport properties of silicon wafers, Eur. Phys. J. Special Topics, 2008, 153, 279-281.

[6] Xiren Zhang, Bincheng Li, and Xianming Liu, Sensitivity analysis of laterally-resolved modulated free carrier absorption determination of electronic transport properties of Si wafer, J. Appl. Phys., 2008, 103, 033709-1-033709-7.

[7] 张希仁李斌成, 刘显明. 调制自由载流子吸收测量半导体载流子输运参数的三维理论, 物理学报, 2008, 57, 7310-7316.

[8] Xiren Zhang, Bincheng Li, and Xianming Liu, Accuracy analysis for the determination of electronic transport properties of Si wafers using modulated free carrier absorption,J. Appl. Phys. 2008, 104, 103705-1-103705-7.

[9] Xiren Zhang, Bincheng Li, and Chunming Gao, Electronic transport characterization of silicon wafers by laterally resolved free carrier absorption and multiparameter fitting, Appl. Phys. Lett., 2006 89(11): 112120-1-112120-3.

[10] Xiren Zhang, Bincheng Li, Yudong Zhang, Measuring the electronic transport properties of Si wafers with laser-induced free-carrier dynamics, 2006 OSA Annual Meeting Frontiers in Optics - Laser Science XXII (FiO-LS), 2006.10: JWD118 (光盘收录).

[11] Chunming Gao, Bicheng Li, and Xiren Zhang, Time-domain modulated free-carrier absorption measurements of the recombination process in silicon, Eur. Phys. J. Special Topics, 2008, 153, 275-277.

[12] Xianming Liu, Bincheng Li, and Xiren Zhang, Photocarrier radiometric and ellipsometric characterization of ion-implanted silicon wafers,J. Appl. Phys., 2008, 103, 123706.

[13] 张希仁, 李斌成. 自由载流子吸收测量半导体电子输运特性 [C], 中国光学学会2006年学术大会论文摘要集, 2006, 09-P46.

[14] 刘显明, 李斌成, 张希仁, 离子注入剂量的光载流子辐射测量技术研究, 2008 远东无损检测新技术论坛.

[15] 赵广社, 张希仁. 基于主成分分析的支持向量机分类方法研究, 计算机工程与应用, 2004.3, 37-39.

[16] 赵广社, 张希仁. 数据挖掘中的统计方法概述, 计算机测量与控制. 2003.11 (12), 914-917.

        

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